產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索:
GCDLSM-800端子電流耐久性測(cè)試系統(tǒng)
GCDLSM-800端子插拔循環(huán)壽命試驗(yàn)機(jī)
GCDLSM-800端子高低溫循環(huán)測(cè)試儀
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗(yàn)系統(tǒng)
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗(yàn)機(jī)
GCSTD-D高低頻固體介電常數(shù)測(cè)試儀
NLD-AI電線電纜漏電起痕試驗(yàn)儀
GDW-250小型高低溫試驗(yàn)臺(tái)
PMQS-I新款國(guó)產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗(yàn)儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
GEST-121薄膜體積電阻率測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測(cè)量?jī)x
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測(cè)試儀
FTDZ-I粉末電阻率測(cè)試儀
當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
漏電起痕試驗(yàn)儀
product
產(chǎn)品分類耐電痕化指數(shù)測(cè)定儀使用范圍 測(cè)量在電壓高達(dá)600V時(shí)固體電氣絕緣材料在電場(chǎng)作用下表面暴露于含雜質(zhì)的水時(shí)的相對(duì)耐電痕化性能。 當(dāng)將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間,且電解液以規(guī)定的時(shí)間間隔滴到兩電極之間時(shí),在此試驗(yàn)情況下可能產(chǎn)生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加,且在低于某一限值時(shí),不發(fā)生電痕化。
更新時(shí)間:2026-01-11
產(chǎn)品型號(hào):NLD-BI
瀏覽量:1775
觸摸屏-耐電痕化指數(shù)測(cè)定儀使用范圍 測(cè)量在電壓高達(dá)600V時(shí)固體電氣絕緣材料在電場(chǎng)作用下表面暴露于含雜質(zhì)的水時(shí)的相對(duì)耐電痕化性能。 當(dāng)將電壓施加到放在材料表面上規(guī)定 的電極裝置之間,且電解液以規(guī)定的時(shí)間間隔滴到兩電極之間時(shí),在此試驗(yàn)情況下可能產(chǎn)生電痕化。引起材料破壞所必需的液滴數(shù)隨著施加電壓的減小而增加,且在低于某一限值時(shí),不發(fā)生電痕化。
更新時(shí)間:2026-01-11
產(chǎn)品型號(hào):NLD-BI
瀏覽量:1654
絕緣漏電起痕試驗(yàn)裝置廠家 在一個(gè)封閉的鹽霧室內(nèi),水平和垂直各放置一個(gè)絕緣子,對(duì)絕緣子施加工頻高壓,長(zhǎng)期運(yùn)行1000小時(shí),判斷工頻高壓及鹽霧室對(duì)絕緣子的蝕損程度,及絕緣子的耐漏電概況,從而判斷絕緣子是否合格。
更新時(shí)間:2026-01-11
產(chǎn)品型號(hào):NLD-AII
瀏覽量:2030
絕緣漏電起痕試驗(yàn)裝置 在一個(gè)封閉的鹽霧室內(nèi),水平和垂直各放置一個(gè)絕緣子,對(duì)絕緣子施加工頻高壓,長(zhǎng)期運(yùn)行1000小時(shí),判斷工頻高壓及鹽霧室對(duì)絕緣子的蝕損程度,及絕緣子的耐漏電概況,從而判斷絕緣子是否合格。
更新時(shí)間:2026-01-11
產(chǎn)品型號(hào):NLD-AII
瀏覽量:2101
耐漏電漏電起痕試驗(yàn)絕緣裝置廠家滿足標(biāo)準(zhǔn): GB/T 20142-2006 標(biāo)稱電壓高于1000V的交流架空線路用線路柱式復(fù)合絕緣子---定義 、試驗(yàn)方法及接受準(zhǔn)則 GBT 22079-2008 標(biāo)稱電壓高于1000V使用的戶內(nèi)和戶外聚合物絕緣子 一般定義、試驗(yàn)方法和接受準(zhǔn)則
更新時(shí)間:2026-01-11
產(chǎn)品型號(hào):NLD-AII
瀏覽量:1964